Книга Физические основы надежности интегральных схем
Название: Физические основы надежности интегральных схем
Автор: Горлов М.И., Данилин Н.С.
Страниц: 404
Формат: DJVU
Размер: 10.3 Мб
Качество: Нормальное
Язык: Русский
Год издания: 2008
В учебном пособии на основе современных физических представлений освещаются основы надежности интегральных схем (ИС). Большое внимание уделено методам повышения надежности выпускаемых партий ИС как в процессе изготовления, так и в процессе отбраковочных испытаний. Рассмотренны дефекты, возникающие в ИС при воздействии электростатических зарядов и радиации.
Издание соответствует требованиям государственного стандарта по направлению 210100 "Электоника и микроэлектроника", специальности "Микроэлектроника и твердотельная электроника".
Оглавление
Основные понятия теории качества и надежности
Критерии и количественные показатели надежности
Зависимости между основными характеристиками надежности
Примеры решения задач по надежности
Общее представление об отказах интегральных схем
Физическая модель отказов
Механизмы внезапных и постепенных отказов
Структурные дефекты компонентов БИС
Общие дефекты в твердых телах
Дефекты к времниевой подложке
Механизм образования "отрицательных нитиевидных кристаллов"
Растворения кремния алюминием
Дефекты пленок поликристаллического кремния
Нитиевидные кристаллы
Рост аморфных нитей
Дефекты структуры диэлектрических слоев
Локализованные дефекты структуры и состава диэлектрических слоев
Химические и физические нелокализованные дефекты
Механизмы отказов интегральных схем и их компонентов
Механизмы внезапных отказов диодов и биполярных транзисторов
Постепенные отказы диодов и биполярных транзисторов ИС
Отказы пассивных элементов ИС
Механизмы отказов МДП ИС
Механизмы катострофических отказов МДП транзисторов
Механизмы постепенных отказов МДП транзисторов
Электрическое старение тонких пленок SiO2
Примеры причин отказов
Самоустраняющиеся отказы
Разрушение кремниевых кристаллов БИС после монтажа металлокерамические корпуса
Дефекты металлизации на кристалле ИС
Виды дефектов внутренних соединений интегральных схем
Коррозия алюминиевой метллизации кремниевых ИС
Механизмы коррозии алюминия на кристалле ИС
Примеры возниконовения коррозионных отказов металлизации
Коррозия алюминиевой металлизации из-за неправильного выбора последовательности технологических операций
Коррозия алюминиевой металлизации из-за несовершенства метода контроля герметичности
Коррозия алюминиевой метллизации из-за загрязнения корпусов
Коррозия алюминиевой металлизации из-за загрязнения корпусов
Коррозия алюминиевой металлизации из-за неконтроллируемого содержания фосфора в фосфоросиликатном стекле
Коррозия алюминиевой металлизации ИС в пластмассовых копусаз из-за попаданиятравителей
Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС
Состав отбраковочных испытаний
Электротренировка
Электротемотренировка
Термотренировка
Продолжительность тренировок
Анализ данных по результатам тренировки
Эффективность отбраковочных испытаний для выявления ИС с дефектами внешнего вида кристаллов
Повышение надежности ППИ методом выравнивающей технологии
Модели процессов отказов ИС
Модель нагрузка-прочность
Модель накопления нагрузки
Влияние длительного воздействия температуры нанадежность термокомпрессионных соединений
Воздействие электростатических зарядов на полупроводниковые изделия
Природа возникновения электростатических зарядов при производстве полупроводниковых изделий
Результаты воздействия электростатических разрядов на полупроводниковые изделия
Коллективные и индивидуальные меры защиты от воздействий статических зарядов
Конструктивно технологические методы повышения стойкости ИС к воздействию ЭСР
Встроенная защита МДП ИС
Схемы защиты МДП ИС
Схемы защиты используемые в отечестенной электронной промышленности
Встроенная защита биполярных ИС от воздействия ЭСР
Особенности встроенной защиты БиКМПОП ИС
Влияние радиации на ИС
Источники радиации
Радиационные повреждения в кремниевых ИС
Влияние радиации на биполярные ИС
Влияние радиации на МДП схемы
Воздействие ренгтгеновского изучения на ИС
Влияние конструктивно технологических факторов надиационную стойкость ИС
Статистические и графические методы исследования качества и надежности ИС
| Рейтинг: | 4.8 баллов / 2537 оценок |
| Формат: | Книга |
| Уже скачали: | 12780 раз |
Похожие Книги
Нам показалось, что Книги ниже Вас заинтересуют не меньше. Эти издания Вы так же можете скачивать и читать совершенно бесплатно на сайте!
-
Региональная геотектоника. Северная и Южная Америка. Антарктида и Африка
Автор: Хаин В.Е.Название: Региональная геотектоника. Северная и Южная Америка. Антарктида и АфрикаИздательство: М.: НедраГод: 1971Количество страниц: 548 Формат: DJVUРазмер: 11 mbЭта книга представляе . . .
-
Импульсные сверхзвуковые струйные течения
Автор: Голуб В.В., Баженова Т.В.Название: Импульсные сверхзвуковые струйные теченияИздательство: М.: НаукаГод: 2008Страниц: 279Формат: PDFРазмер: 13.82 МбВ монографии обобщены литературные данные и со . . .
-
Неравновесная конденсация в высокоскоростных потоках газа
Автор: Горбунов В.Н. Пирумов У.Г. Рыжов У.Г.Название: Неравновесная конденсация в высокоскоростных потоках газаИздательство: М.: МашиностроениеГод: 1984Страниц: 200Формат: PDFРазмер: 18.16 МбВ моногра . . .
-
Окружающий мир. 3 класс. Учебник в 2 частях
Название: Окружающий мир. 3 класс. Учебник в 2 частяхАвтор/редактор: Плешаков А.А.Издательство: ПросвещениеГод: 2013Страниц: 175+175Язык: русскийФормат: PDFРазмер: 59 Мб Учебник соответствует требован . . .
-
FineScale Modeler №1 2014
Название: FineScale ModelerИздательство: Kalmbach PublishingНомер: Vol.32 No.1Год/месяц издания: Январь 2014Язык: EnglishКоличество страниц: 68Формат: PDFРазмер: 17 MbFineScale Modeler - журнал для лю . . .
-
Co by se stalo, kdyby... (Valka Revue Special)
Название: Co by se stalo, kdyby... (Valka Revue Special)Издательство: Extra PublishingГод: 2012Формат: pdfРазмер: 111 MbКол-во страниц: 100Язык: CzechЧешский военно-исторический журнал.uploaded.netdep . . .
-
Лекции по отечественной истории (IX-XIX века)
Автор: Суздалева Т.Р., Фёдоров К.В.Название: Лекции по отечественной истории (IX-XIX века)Издательство: М.: МПСИ; Воронеж: МОДЭКГод: 2011Количество страниц: 312Формат: pdfРазмер: 14 mbУчебное пособие . . .
-
Технический анализ. Просто и ясно
Название: Технический анализ. Просто и ясно Автор: Майкл Н. Кан Издательство: Питер Год издания: 2003 Страниц: 282 Язык: Русский Формат: djvu Размер: 4,1 МбОписание: Представьте, что вы говорите тол . . .
-
Обзор распоряжений по продовольствию действующей армии в 1831, 1848, 1849 и 1853-1855 годах
Автор: Составил Вл. АратовскийНазвание: Обзор распоряжений по продовольствию действующей армии в 1831, 1848, 1849 и 1853-1855 годахИздательство: Издание редакции журнала "Военный Сборник", Типография . . .
-
Жизнь природы. Картина физических и химических явлений
Автор: д-р Вильгельм МейерПеревод с немецкого: А.Р. Кулишер, под редакцией профессора Н.А. ГезехусаНазвание: Жизнь природы. Картина физических и химических явленийИздательство: Типо-литография Книгоиз . . .
Вы не зарегистрированы!
Если вы хотите скачивать книги, журналы и аудиокниги бесплатно, без рекламы и без смс, оставлять комментарии и отзывы, учавствовать в различных интересных мероприятиях, получать скидки в книжных магазинах и многое другое, то Вам необходимо зарегистрироваться в нашей Электронной Библиотеке.
Отзывы читателей
Ой!
К сожалению, в нашей Бесплатной Библиотеке пока нет отзывов о Книге Книга Физические основы надежности интегральных схем. Помогите нам и другим читателям окунуться в сюжет Книги и узнать Ваше мнение. Оставьте свой отзыв или обзор сейчас, это займет у Вас всего-лишь несколько минут.