Название: Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий
Автор: Глинченко А.С., Егоров Н.М., Комаров В.А., Сарафанов А.В.
Издательство: ДМК Пресс
Год: 2008
Страниц: 352
ISBN: 5-94074-416-8
Формат: DJVU
Размер: 5.3 Мб
Язык: русский
Рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного практикума с удаленным доступом по исследованию полупроводниковых приборов, приведено описание реализующей его системы АЛП УД "Электроника". Приведены задания и методические указания к лабораторным работам по экспериментальному исследованию и моделированию полупроводниковых диодов, стабилитронов, полевых и биполярных транзисторов, включающие измерение их вольт-амперных характеристик и параметров, исследование технологического разброса и работы на переменном токе.
Предназначено для студентов и учащихся технических специальностей вузов, колледжей, профессиональных училищ и лицеев для использования в лабораторном практикуме дисциплины "Электроника" и других родственных дисциплин.
ОГЛАВЛЕНИЕ
Показать / Скрыть текстВведение.........10
1. Автоматизированный лабораторный практикум с удаленным доступом на базе технологий National Instruments......14
1.1. Обобщенная схема построения АЛП УД...............14
1.2. Компьютерные измерительные технологии National Instruments..........16
1.3. Обобщенная схема построения систем АЛП УД с применением технологий National Instruments..........22
1.4. Система АЛП УД «Электроника».........24
1.4.1. Функциональные характеристики АПК УД «Электроника».........................24
1.4.2. Исследования, выполняемые с помощью моделирования на ПЭВМ.........28
1.4.3. Интерактивное электронное техническое руководство............................29
1.4.4. Электронная система тестирования.............................................................30
1.4.5. Организация лабораторного практикума на базе сетевой лаборатории........................31
2. Методы и средства измерения вольт-амперных характеристики параметров полупроводниковых приборов.........34
2.1. Измерение ВАХ полупроводниковых приборов методом вольтметра-амперметра.........................34
2.2. Определение параметров полупроводниковых приборов методом вольтметра-амперметра.......................36
2.3. Схемы измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов, основанные на измерении напряжений.............37
2.4. Способы измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов.................41
2.5. Средства, используемые для измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов..........42
2.6. Традиционные средства измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов...........42
2.7. Средства измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов на базе ПЭВМ..........44
3. Аппаратно-программный комплекс с удаленным доступом «Электроника» 48
3.1. Конфигурация АПК «Электроника» и его инструментальное обеспечение...................48
3.2. Автоматизированный лабораторный макет АПК «Электроника»..........50
3.3. Клиентское программное обеспечение АПК «Электроника».................55
3.4. Виртуальные стенды для лабораторных исследований ВАХ и параметров полупроводниковых приборов....................58
3.4.1. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию ВАХ и параметров выпрямительных диодов.............58
3.4.2. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию ВАХи параметров стабилитронов..........62
3.4.3. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию ВАХ и параметров полевых транзисторов.........66
3.4.4. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию ВАХ и параметров биполярных транзисторов.............73
3.5. Виртуальные стенды для лабораторных исследований технологического разброса ВАХ и параметров полупроводниковых приборов.........82
3.5.1. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию технологического разброса ВАХ и параметров выпрямительных диодов..........82
3.5.2. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию технологического разброса ВАХ и параметров стабилитронов..........................85
3.5.3. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию технологического разброса ВАХ и параметров полевых транзисторов.............89
3.5.4. Виртуальный лабораторный стенд по измерению и исследованию технологического разброса ВАХ и параметров биполярных транзисторов.....94
3.6. Виртуальные стенды для лабораторных исследований полупроводниковых приборов на переменном токе.......................................98
3.6.1. Виртуальный лабораторный стенд по исследованию работына переменном токе выпрямительных диодов.............98
3.6.2. Виртуальный лабораторный стенд по исследованию работы на переменном токе стабилитронов.....................101
3.6.3. Виртуальный лабораторный стенд по исследованию работы на переменном токе полевых транзисторов................104
3.6.4. Виртуальный лабораторный стенд по исследованию работы на переменном токе биполярных транзисторов..............108
4. Исследование полупроводниковых приборов посредством моделирования на ПЭВМ 113
4.1. Модели, средства и технология исследования полупроводниковых приборов с помощью моделирования на ПЭВМ....................113
4.2. Исследование на ПЭВМ выпрямительных диодов...................................117
4.2.1. Исследование ВАХ и параметров выпрямительного диода....................117
4.2.1.1. Методика исследования прямой ветви ВАХ выпрямительного диода............118
4.2.1.2. Методика исследования обратной ветви ВАХ выпрямительного диода.......................120
4.2.2. Исследование технологического разброса ВАХи параметров выпрямительных диодов...........................121
4.2.2.1. Методика исследования технологического разброса ВАХ и параметров выпрямительного диода.............122
4.2.3. Исследование работы выпрямительного диода на переменном токе ... 124
4.2.3.1. Методика исследования работы выпрямительного диода в схеме однополупериодного выпрямителя....................124
4.2.3.2. Методика исследования работы выпрямительного диода в схеме двухполупериодного выпрямителя........................127
4.3. Исследование на ПЭВМ стабилитронов.....................................................130
4.3.1. Исследование ВАХ и параметров стабилитрона......................................130
4.3.1.1. Методика исследования прямой и обратной ветвей ВАХ стабилитрона.....................130
4.3.1.2. Методика исследования характеристик стабилизации ї/ст = f(E) при различных сопротивлениях нагрузки стабилитрона..........132
4.3.1.3. Методика исследования нагрузочных характеристик стабилитрона U =/(/).............133
4.3.2. Исследование технологического разброса ВАХ и параметров стабилитрона..........................137
4.3.2.1. Методика исследования технологического разброса ВАХ и параметров стабилитрона....................137
4.3.3. Исследования работы стабилитрона на переменном токе.....................139
4.3.3.1. Методика исследования работы стабилитрона на переменном токе.... 139
4.4. Исследование на ПЭВМ полевых транзисторов......................................141
4.4.1. Исследование ВАХ и параметров полевого транзистора.......................141
4.4.1.1. Методика исследования статических передаточных ВАХ полевого транзистора.....................142
4.4.1.2. Методика исследования статических выходных ВАХ полевого транзистора..................144
4.4.2. Исследование технологического разброса ВАХ и параметров полевых транзисторов...............146
4.4.2.1. Методика исследования технологического разброса статических передаточных ВАХ полевого транзистора..................147
4.4.2.2. Методика исследования технологического разброса статических выходных ВАХ полевого транзистора...................148
4.4.3. Исследование работы полевого транзистора на переменном токе......150
4.4.3.1. Методика исследования работы полевого транзистора на переменном токе...................151
4.4.4. Исследование температурных зависимостей ВАХ и параметров полевого транзистора....................... 153
4.4.4.1. Методика исследования температурной зависимости статических передаточных ВАХ полевого транзистора........154
4.4.4.2. Методика исследования температурной зависимости статических выходных ВАХ полевого транзистора........156
4.4.4.3. Методика исследования температурной зависимости крутизны полевого транзистора..........158
4.4.5. Исследование частотных свойств полевого транзистора........................159
4.5. Исследование на ПЭВМ биполярных транзисторов...............................162
4.5.1. Исследование ВАХ и параметров биполярного транзистора.................162
4.5.1.1. Методика исследования статических входных ВАХ биполярного транзистора..............................162
4.5.1.2. Методика исследования статических выходных ВАХ биполярного транзистора....................164
4.5.2. Исследование технологического разброса ВАХ и параметров биполярного транзистора...............166
4.5.2.1. Методика исследования технологического разброса статических входных ВАХ биполярного транзистора..........167
4.5.2.2. Методика исследования технологического разброса статических выходных ВАХ биполярного транзистора..........169
4.5.3. Исследование работы биполярного транзистора на переменном токе .... 171
4.5.3.1. Методика исследования работы биполярного транзистора на переменном токе....................171
4.5.4. Исследование температурных зависимостей ВАХ и параметров биполярного транзистора.....................173
4.5.4.1. Методика исследования температурной зависимости статических входных ВАХ биполярного транзистора..........173
4.5.4.2. Методика исследования температурной зависимости статических выходных ВАХ биполярного транзистора.....174
4.5.4.3. Методика исследования температурной зависимости коэффициента усиления по току биполярного транзистора.........176
4.5.5. Исследование частотных свойств биполярного транзистора.................178
5. Описание лабораторных работ по исследованию полупроводниковых приборов 182
Лабораторная работа № 1
Измерение и исследование ВАХ и параметров выпрямительных диодов.....182
Лабораторная работа № 2
Исследование технологического разброса ВАХ и параметров выпрямительных диодов..............192
Лабораторная работа № 3
Исследование работы выпрямительных диодов на переменном токе......199
Лабораторная работа № 4
Измерение и исследование ВАХ и параметров стабилитронов.................207
Лабораторная работа № 5
Исследование технологического разброса ВАХ и параметров стабилитронов........................216
Лабораторная работа № 6
Исследование работы стабилитрона на переменном токе..........................223
Лабораторная работа № 7
Измерение и исследование ВАХ и параметров полевых транзисторов... 231
Лабораторная работа № 8
Исследование технологического разброса ВАХ и параметров полевых транзисторов.....................247
Лабораторная работа № 9
Исследование работы полевого транзистора на переменном токе..........256
Лабораторная работа № 10
Измерение и исследование ВАХ и параметров биполярных транзисторов................269
Лабораторная работа № 11
Исследование технологического разброса вольт-амперных характеристик и параметров биполярных транзисторов................282
Лабораторная работа № 12
Исследование работы биполярного транзистора на переменном токе........291
6. Выполнение лабораторных исследований на базе сетевой лаборатории ...306
6.1. Основные функциональные характеристики............................................306
6.2. Методика проведения лабораторных исследований.............................311
6.2.1. Экспериментальные исследования.............................................................311
6.2.2. Исследования, проводимые средствами математического моделирования...............................313
6.2.3. Дополнительные возможности...................................................................314
Заключение.....................................................................................316
Список литературы................................................................................................317
Приложение 1
Список используемых сокращений 319
Приложение 2
Описание моделей радиокомпонентов и их параметров 321
Приложение 3
Предельные эксплуатационные данные исследуемых полупроводниковых приборов 340
Приложение 4
Варианты заданий 342
Скачать с startfiles.org
Скачать с file-space.org
Скачать с depositfiles.com
Скачать с turbobit.net
Скачать с borncash.org
Рейтинг: | 4.8 баллов / 2537 оценок |
Формат: | Книга |
Уже скачали: | 12788 раз |
Нам показалось, что Книги ниже Вас заинтересуют не меньше. Эти издания Вы так же можете скачивать и читать совершенно бесплатно на сайте!
Название: Катрина Автор: Кира Нуруллина Издательство: ТОО "Interconsult Info" Страниц: 220 Формат: PDF Размер: 7.42 mb Качество: Отличное Язык: Русский Жанр: фантастика, роман, трагедия, боевик Год из . . .
Название: Поиск дефектов в электрооборудовании Автор: Захаров О.Г. Издательство: Высшая школа Страниц: 127 Формат: PDF Размер: 6.8 Mб Качество: Нормальное Язык: Русский Год издания: 1986 В книге приве . . .
Название: Последний ведьмак Страниц: 352 Формат: Смешанный Размер: 8.08 Мб Качество: Отличное Язык: Русский Жанр: фантастический боевик Год издания: 2006 ISBN: 5-93556-768-7 Ведьмачий дар, полученный . . .
Название: Дети Империи - 2. Задание Империи Автор: Олег Измеров Издательство: АЛЬФА-КНИГА Страниц: 505 Формат: Смешанный Размер: 10,15 Mb Качество: Отличное Язык: Русский Жанр: Альтернативная история . . .
Название: Code One - Semper Viper! Автор: Joe Bill Dryden Издательство: Lockheed Martin Aeronautics Company Страниц: 96 Формат: PDF Размер: 20 mb Качество: Нормальное Язык: Английский Год издания: 199 . . .
Название: Телевизоры «Электрон»: Справочник Автор: Смердов А.А.(ред.) Издательство: Радио и связь Страниц: 224 Формат: DJVU Размер: 20.2 Mб Качество: Нормальное Язык: Русский Год издания: . . .
Название: Biedermeier to Bauhaus Автор: Sirgid Sangl Издательство: Harry N. Abrams, Inc. Формат: JPG Размер: 141,86 мб Качество: Отличное Язык: Английский Год издания: 2001 Интерьеры немецких домов. И . . .
Название: Postcard Collection Автор: коллектив Изда тельство: Curt Teich & Co. Страниц: 23 Формат: PDF Размер: 29 mb Качество: Нормальное Язык: Английский Год издания: 1939-1945 A collection of vi . . .
Название: Viva! Beauty №4 (зима 2012) Автор: коллектив Издательство: Эдипресс Страниц: 91 Формат: PDF Размер: 63 мб Качество: Отличное Язык: Русский Год издания: 2012 Viva! Beauty – это ваш личн . . .
Название: Справочник по качеству зерна Автор: Жемела Г.П.(ред.) Издательство: Урожай Страниц: 216 Формат: DJVU Размер: 11 Mб Качество: Нормальное Язык: Русский Год издания: 1988 ISBN: 5-337-00003-9 Ос . . .
Если вы хотите скачивать книги, журналы и аудиокниги бесплатно, без рекламы и без смс, оставлять комментарии и отзывы, учавствовать в различных интересных мероприятиях, получать скидки в книжных магазинах и многое другое, то Вам необходимо зарегистрироваться в нашей Электронной Библиотеке.
К сожалению, в нашей Бесплатной Библиотеке пока нет отзывов о Книге Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий. Помогите нам и другим читателям окунуться в сюжет Книги и узнать Ваше мнение. Оставьте свой отзыв или обзор сейчас, это займет у Вас всего-лишь несколько минут.