Название: Испытание и исследование полупроводниковых приборов
Автор: Аронов В.Л., Федотов Я.А.
Издательство: Высшая школа
Год: 1975
Страниц: 325
Формат: PDF
Размер: 52 Мб
Язык: русский
В книге изложены основные принципы и методы измерения полупроводниковых приборов, дана оценка погрешностей измерения параметров. Описаны методы измерения статических параметров, параметров двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала, импульсных параметров, шумовых и тепловых параметров, параметров высокочастотных полупроводниковых приборов и др. Приведены особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования.
Оглавление
Показать / Скрыть текстПредисловие... 3
Введение... 4
Глава I Основные принципы и методы измерения электрических параметров полупроводниковых приборов... 11
§ 1.1 Метод замещения... 11
§ 1.2. Генератор тока я генератор напряжения в технике измерения полупроводниковых приборов... 16
§ 1.3. Мостовые методы... 24
§ 1.4. Методы измерения параметров, представляющих собой отрезки времени... 26
§ 1.5. Методы, основанные на преобразования результатов измерения в цифровой код... 30
Глава II. Оценки погрешности измерения параметров полупроводниковых приборов... 33
§ 2.1. Классификация погрешностей измерения... 34
§ 2.2. Количественное представление погрешности измерения ... 37
§ 2.3. Суммирование частных погрешностей измерения... 40
§ 2.4. Пример оценки погрешности измерительной установки... 43
Глаза III. Измерение статических параметров полупроводниковых приборов ... 55
§ 3.1. Статические характеристики... 55
§ 3.2. Статические параметры диодов и транзисторов... 63
§ 3.3. Измерения статических параметров диодов и транзисторов... 68
§ 3 4. Измерение малых обратных токов... 77
§ 3.5. Измерения статических характеристик полупроводниковых приборов с отрицательным сопротивлением и с "разрывными" характеристиками ... 81
Глава IV. Измерение параметров эквивалентных двухполюсника в четырехполюсника с помощью малого сигнала... 89
§ 4.1. Малосигнальные параметры полупроводниковых приборов на низких частотах ... 90
§ 4.2. Методы измерения параметров на низких частотах... 97
§ 4.3. Измерение малосигнальных параметров полупроводниковых приборов на высоких частотах... 104
§ 4.4. Измерение параметров на сверхвысоких частотах...113
Глава V. Измерение параметров эквивалентных схем полупроводниковых приборов ...123
§ 5.1. Измерение емкостей полупроводниковых приборов... 125
§ 5.2. Измерение последовательных сопротивлений диодов... 134
§ 5.3. Параметры эквивалентной схемы биполярного транзистора ...144
§ 5.4. Измерение граничной частоты транзисторов... 153
§ 5.5. Измерение базового сопротивления транзисторов... 163
§ 5.6. Измерение индуктивностей выводов полупроводниковых приборов... 169
§ 5.7. Измерение параметров эквивалентных схем полевых транзисторов ...173
§ 5.8. Измерение параметров эквивалентной схемы туннельных диодов ...177
Глава VI. Измерение импульсных параметров полупроводниковых приборов ...179
§ 6.1. Импульсные параметры полупроводниковых диодов...181
§ 6.2. Методы измерения импульсных параметров полупроводниковых диодов...185
§ 6.3. Импульсные параметры транзисторов...193
§ 6.4. Методы измерения импульсных параметров транзисторов ...196
§ 6.5. Измерение импульсных параметров триодных тиристоров ...204
Глава VII. Исследования и измерение шумовых параметров полупроводниковых приборов...210
§ 7.1. Шумовые параметры двухполюсника и четырехполюсника ... 211
§ 7.2. Измерение шумовой температуры двухполюсника ...213
§ 7.3. Измерение шумовых параметров четырехполюсников на низкой частоте...217
§ 7.4. Измерение коэффициента шума транзисторов на высоких и сверхвысоких частотах...224
Глава VIII. Исследования и контроль тепловых характеристик полупроводниковых приборов...232
§ 8.1. Методы измерения электрических параметров в диапазоне температур ...232
§ 8.2. Методы исследования температуры в активной области прибора ...234
§ 8.3. Измерение теплового сопротивления...237
§ 8.4. Испытания на устойчивость полупроводниковых приборов к температурным воздействиям ...249
Глава IX. Измерение параметров генераторных высокочастотных полупроводниковых приборов...252
§ 9.1. Измерение отдаваемой мощности полупроводниковых приборов, работающих в схеме автогенератора...252
§ 9.2. Измерение отдаваемой мощности, коэффициента усиления и к.п.д. полупроводниковых приборов, работающих в схеме генератора с независимым возбуждением...257
§ 9.3 Измерение параметров структуры и эквивалентной схемы ... 265
Глава X. Испытания полупроводниковых приборов на надежность ... 272
§ 10.1. Виды испытаний на надежность... 272
§ 10.2. Основные понятия надежности... 276
§ 10.3 Распределение отказов во времени. Количественные показатели надежности...297
§ 10.4. Обработка результатов испытаний. Понятие о доверительной интервале ... 300
§ 10.5. Оценка качества продукции на соответствие нормам технических условий. Определение объема выборки
§ 10.6. Классификация отказов. Роль критериев годности в оценке результатов
§ 10.7. Цели и задачи испытаний
Глава XI. Особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования для полупроводниковых приборов ... 305
§ 11.1. Контактодержатель для подключения полупроводниковых приборов к измерительной схеме ... 305
§ 11.2. Защита полупроводниковых приборов от случайных перегрузок ...311
§ 11.3. Методы подавления паразитной генерации испытуемого прибора в схеме измерения... 314
§ 11.4. Основные принципы компоновки измерительных установок...317
Литература... 320
Скачать с borncash.org
Скачать с depositfiles.com
Скачать с turbobit.net
Скачать с startfiles.org
Рейтинг: | 4.8 баллов / 2537 оценок |
Формат: | Книга |
Уже скачали: | 12850 раз |
Нам показалось, что Книги ниже Вас заинтересуют не меньше. Эти издания Вы так же можете скачивать и читать совершенно бесплатно на сайте!
Год издания: 2014 Страниц: 01:30:11 Язык: русский Формат: Видео Размер: 1,89 GB Информация о файле: Формат видео: MP4 Видео: MPEG-4, 1920x1080, 2801 Kbps, 30.000 fps Аудио: AAC, 192 Kbps, 48 . . .
Название: Как проверить оперативную память на ошибки Автор: Антон Севостьянов Формат: SATRip Размер: 765 мб Качество: Отличное Язык: Русский Жанр: Обучающее видео Год издания: 2015 Синий «экран смерти . . .
Год издания: 2014 Страниц: 11.51.25 Язык: русский Формат: Видео Размер: 5,71 GB Информация о файле: Формат: MP4 Видео: MPEG-4, 1648x1052 - 1024x768, ~1206 kbps, 25 fps Аудио: AC, 44.1 kHz, 2 . . .
Год издания: 2014 Страниц: 01:06:25 Язык: русский Формат: Видео Размер: 1,69 GB Файл Формат видео: MP4 Качество видео: PCRec Видео: MPEG-4, 1920x1080, ~3037 Kbps, 30.000 fps Аудио: AAC, 192 . . .
Емский Виктор Издательство: Самиздат Год издания: 2015 Страниц: 279 Язык: русский Формат: RTF Размер: 1,39 Mb Главные герои книги далеко не вымышленные персонажи. Атлант, Зевс, Брахма, Ви . . .
Игорь Курукин Издательство: OnlineTV Год издания: 2014 Страниц: 04:10 Язык: русский Формат: MP3, WMA, M4B Размер: 208,59 Мб Содержание: 1. Между Петром I и Екатериной II. Неизвестные цари . . .
Фетжен Жан-Луи ISBN: 978-966-14-8629-3 Издательство: Клуб Семейного Досуга Год издания: 2015 Страниц: 358 Язык: русский Формат: FB2 Размер: 11,63 мб Неспокойно стало в королевстве эльфов . . .
Коллектив Издательство: Россия Год издания: 2015 Страниц: 13 мин Язык: русский Формат: Видео Размер: 183.38 Mb Через тело и дыхание человек способен влиять на своё внутреннее состояние, е . . .
Шкирич Анатолий ISBN: 978-5-17-088148-2 Издательство: АСТ Год издания: 2015 Страниц: 416 Язык: русский Формат: RTF Размер: 1,33 Mb Каково это – угодить в мир, где магия – нормальное явле . . .
Коллектив Год издания: 2015 Страниц: 100 Язык: русский Формат: Видео Размер: 492.44 Mb Катушки – каждая из 55 витков медного 1 мм провода в термостойкой высокопрочной эмалевой изоляции, ПЭ . . .
Если вы хотите скачивать книги, журналы и аудиокниги бесплатно, без рекламы и без смс, оставлять комментарии и отзывы, учавствовать в различных интересных мероприятиях, получать скидки в книжных магазинах и многое другое, то Вам необходимо зарегистрироваться в нашей Электронной Библиотеке.
К сожалению, в нашей Бесплатной Библиотеке пока нет отзывов о Книге Испытание и исследование полупроводниковых приборов. Помогите нам и другим читателям окунуться в сюжет Книги и узнать Ваше мнение. Оставьте свой отзыв или обзор сейчас, это займет у Вас всего-лишь несколько минут.