Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Название: Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Автор Mahapatra, Souvik (Ed.)
Издательство: Springer
Серия:Springer Series in Advanced Microelectronics
Год: 2016
Страниц:269
Язык: English
Формат: pdf
Размер: 20 Mb
Provides a comprehensive resource covering characterization methods, modeling techniques and gate insulator process dependence of BTI
Accurately establishes the physical mechanism of BTI, accurate modeling of measured degradation for wide variety of MOSFET processes, model verified by independent measurements of gate insulator defects
Establishes a comprehensive framework for accurate estimation of NBTI degradation and recovery during DC and AC stress
This book aims to cover different aspects of Bias Temperature Instability (BTI). BTI remains as an important reliability concern for CMOS transistors and circuits. Development of BTI resilient technology relies on utilizing artefact-free stress and measurement methods and suitable physics-based models for accurate determination of degradation at end-of-life and understanding the gate insulator process impact on BTI. This book discusses different ultra-fast characterization techniques for recovery artefact free BTI measurements. It also covers different direct measurements techniques to access pre-existing and newly generated gate insulator traps responsible for BTI. The book provides a consistent physical framework for NBTI and PBTI respectively for p- and n- channel MOSFETs, consisting of trap generation and trapping. A physics-based compact model is presented to estimate measured BTI degradation in planar Si MOSFETs having differently processed SiON and HKMG gate insulators, in planar SiGe MOSFETs and also in Si FinFETs. The contents also include a detailed investigation of the gate insulator process dependence of BTI in differently processed SiON and HKMG MOSFETs. The book then goes on to discuss Reaction-Diffusion (RD) model to estimate generation of new traps for DC and AC NBTI stress and Transient Trap Occupancy Model (TTOM) to estimate charge occupancy of generated traps and their contribution to BTI degradation. Finally, a comprehensive NBTI modeling framework including TTOM enabled RD model and hole trapping to predict time evolution of BTI degradation and recovery during and after DC stress for different stress and recovery biases and temperature, during consecutive arbitrary stress and recovery cycles and during AC stress at different frequency and duty cycle. The contents of this book should prove useful to academia and professionals alike.
depositfiles.com
turbobit.net
| Рейтинг: | 4.8 баллов / 2537 оценок |
| Формат: | Книга |
| Уже скачали: | 12778 раз |
Похожие Книги
Нам показалось, что Книги ниже Вас заинтересуют не меньше. Эти издания Вы так же можете скачивать и читать совершенно бесплатно на сайте!
-
Е. Левашева - 50 рецептов. Блюда из огурцов, помидоров, перца, кабачков и зеленых салатов
Перед вами книга из новой кулинарной серии, объединенной круглой цифрой 50 и собравшей коллекцию блюд по самым популярным темам: консервированные блюда, блюда на гриле, салаты, баклажаны и кабачки, бл . . .
-
Bravo Chef! Рецепты Французской кухни (2012/DVDRip)
Лучшие поваpa миpа зa рaботoй! Вам предоставляется уникальная возможность пoэтапно повтоpять их движения как кратчайший мeтод уcвоить кулинаpные приемы и тeхники. Сaмый доступный метод cобственноручнo . . .
-
"Рецепты на бис" 2012 "К празднику"
Название: "Рецепты на бис" 2012"К празднику"Издательство: ООО "Слог"Формат: DjVuРазмер: 22.5 МбСтраниц: 192Язык: русскийПраздники бывают большие и маленькие, детские и взрослые, скромные и пышные, на . . .
-
Солянка рецептов и заготовок №11, 2012
Название: Солянка рецептов и заготовок №11, 2012Автор: коективИздательство: ФЛ Булатов А. А.2012/ноябрьГод: 2012/ноябрьНомер: 11Формат: jpegРазмер: 22 mbКачество: отличноеЯзык: русскийАннотация: Отли . . .
-
Пиццы, пироги, беляши, чебуреки
Пиццы, пироги, беляши, чебуреки - настоящая находка для хозяек, которые любят экспериментировать с начинками. Традиционные или оригинальные, мясные, овощные и сладкие, но неизменно аппетитные и аромат . . .
-
Сборник книг из серии "7 поварят" 2004-2012 (72шт. )
Книги серии «7 поварят» выгодно отличаются сочетанием демократичной цены с великолепным оформлением. Каждый рецепт книг этой серии сопровождается цветной иллюстрацией, информацией о времени приго . . .
-
Скатерть-Самобранка № 15,18,20,21 (+ 7 спецвыпусков) 2010
Название: Скатерть-Самобранка № 15,18,20,21 (+ 7 спецвыпусков) 2010Издательство: Газетный мирГод издания: 2010Номер: № 15,18,20,21 (+ 7 спецвыпусков)Язык: русскийCтраниц: 500Формат: программа для djvu . . .
-
Сладкий Смак № 2-12 1996 / № 1,3-6 1997
Название: Сладкий Смак № 2-12 1996 / № 1,3-6 1997Издательство: ОВА-ПРЕССГод издания: 1996-1997Номер: № 2-12 1996 / № 1,3-6 1997Язык: русскийCтраниц: 420Формат: PDFРазмер: 161 МБОписание: Кулинарный жу . . .
-
Приготовь № 2 2012
Название: Приготовь № 2 2012Издательство: ЗАО "ЭДИПРЕСС-КОНЛИГА"Страниц: 66Формат: PDFРазмер: 20,37 МбЯзык: РусскийГод издания: 2012Качество: ОтличноеОписание: Ежемесячный кулинарный журнал. В каждом . . .
-
Пищевой спирт: получение, очистка, использование
В учебном пособии в систематизированном виде изложены способы получения пищевого спирта-сырца, способы его очистки и изготовление на его основе водок и других крепких спиртных напитков.Оно может быть . . .
Вы не зарегистрированы!
Если вы хотите скачивать книги, журналы и аудиокниги бесплатно, без рекламы и без смс, оставлять комментарии и отзывы, учавствовать в различных интересных мероприятиях, получать скидки в книжных магазинах и многое другое, то Вам необходимо зарегистрироваться в нашей Электронной Библиотеке.
Отзывы читателей
Ой!
К сожалению, в нашей Бесплатной Библиотеке пока нет отзывов о Книге Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling. Помогите нам и другим читателям окунуться в сюжет Книги и узнать Ваше мнение. Оставьте свой отзыв или обзор сейчас, это займет у Вас всего-лишь несколько минут.