Бесплатная библиотека - 1 338 004 изданий в библиотеке

Физические основы надежности интегральных схем

Книга Физические основы надежности интегральных схем


Название: Физические основы надежности интегральных схем
Автор: Горлов М.И., Данилин Н.С.
Издательство: МАКСПресс
Год: 2008
Страниц: 404
ISBN: 978-5-317-02303-4
Формат: DJVU
Размер: 10.3 Мб
Язык: русский
В учебном пособии на основе современных физических представлений освещаются основы надежности интегральных схем (ИС). Большое внимание уделено методам повышения надежности выпускаемых партий ИС как в процессе изготовления, так и в процессе отбраковочных испытаний. Рассмотренны дефекты, возникающие в ИС при воздействии электростатических зарядов и радиации.
Издание соответствует требованиям государственного стандарта по направлению 210100 "Электоника и микроэлектроника", специальности "Микроэлектроника и твердотельная электроника".
Оглавление
Основные понятия теории качества и надежности
Критерии и количественные показатели надежности
Зависимости между основными характеристиками надежности
Примеры решения задач по надежности
Общее представление об отказах интегральных схем
Физическая модель отказов
Механизмы внезапных и постепенных отказов
Структурные дефекты компонентов БИС
Общие дефекты в твердых телах
Дефекты к времниевой подложке
Механизм образования "отрицательных нитиевидных кристаллов"
Растворения кремния алюминием
Дефекты пленок поликристаллического кремния
Нитиевидные кристаллы
Рост аморфных нитей
Дефекты структуры диэлектрических слоев
Локализованные дефекты структуры и состава диэлектрических слоев
Химические и физические нелокализованные дефекты
Механизмы отказов интегральных схем и их компонентов
Механизмы внезапных отказов диодов и биполярных транзисторов
Постепенные отказы диодов и биполярных транзисторов ИС
Отказы пассивных элементов ИС
Механизмы отказов МДП ИС
Механизмы катострофических отказов МДП транзисторов
Механизмы постепенных отказов МДП транзисторов
Электрическое старение тонких пленок SiO2
Примеры причин отказов
Самоустраняющиеся отказы
Разрушение кремниевых кристаллов БИС после монтажа металлокерамические корпуса
Дефекты металлизации на кристалле ИС
Виды дефектов внутренних соединений интегральных схем
Коррозия алюминиевой метллизации кремниевых ИС
Механизмы коррозии алюминия на кристалле ИС
Примеры возниконовения коррозионных отказов металлизации
Коррозия алюминиевой металлизации из-за неправильного выбора последовательности технологических операций
Коррозия алюминиевой металлизации из-за несовершенства метода контроля герметичности
Коррозия алюминиевой метллизации из-за загрязнения корпусов
Коррозия алюминиевой металлизации из-за загрязнения корпусов
Коррозия алюминиевой металлизации из-за неконтроллируемого содержания фосфора в фосфоросиликатном стекле
Коррозия алюминиевой металлизации ИС в пластмассовых копусаз из-за попаданиятравителей
Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС
Состав отбраковочных испытаний
Электротренировка
Электротемотренировка
Термотренировка
Продолжительность тренировок
Анализ данных по результатам тренировки
Эффективность отбраковочных испытаний для выявления ИС с дефектами внешнего вида кристаллов
Повышение надежности ППИ методом выравнивающей технологии
Модели процессов отказов ИС
Модель нагрузка-прочность
Модель накопления нагрузки
Влияние длительного воздействия температуры нанадежность термокомпрессионных соединений
Воздействие электростатических зарядов на полупроводниковые изделия
Природа возникновения электростатических зарядов при производстве полупроводниковых изделий
Результаты воздействия электростатических разрядов на полупроводниковые изделия
Коллективные и индивидуальные меры защиты от воздействий статических зарядов
Конструктивно технологические методы повышения стойкости ИС к воздействию ЭСР
Встроенная защита МДП ИС
Схемы защиты МДП ИС
Схемы защиты используемые в отечестенной электронной промышленности
Встроенная защита биполярных ИС от воздействия ЭСР
Особенности встроенной защиты БиКМПОП ИС
Влияние радиации на ИС
Источники радиации
Радиационные повреждения в кремниевых ИС
Влияние радиации на биполярные ИС
Влияние радиации на МДП схемы
Воздействие ренгтгеновского изучения на ИС
Влияние конструктивно технологических факторов надиационную стойкость ИС
Статистические и графические методы исследования качества и надежности ИС

Скачать с hitfile.net
Скачать с bezsms.org
Скачать с depositfiles.com
Скачать с turbobit.net

Рейтинг: 4.8 баллов / 2537 оценок
Формат: Книга
Уже скачали: 12854 раз

Похожие Книги

Нам показалось, что Книги ниже Вас заинтересуют не меньше. Эти издания Вы так же можете скачивать и читать совершенно бесплатно на сайте!

Вы не зарегистрированы!

Если вы хотите скачивать книги, журналы и аудиокниги бесплатно, без рекламы и без смс, оставлять комментарии и отзывы, учавствовать в различных интересных мероприятиях, получать скидки в книжных магазинах и многое другое, то Вам необходимо зарегистрироваться в нашей Электронной Библиотеке.

Войти Регистрация

Отзывы читателей

Ой!

К сожалению, в нашей Бесплатной Библиотеке пока нет отзывов о Книге Физические основы надежности интегральных схем. Помогите нам и другим читателям окунуться в сюжет Книги и узнать Ваше мнение. Оставьте свой отзыв или обзор сейчас, это займет у Вас всего-лишь несколько минут.